產(chǎn)品展示

• 

  MKY-CF6K-1B可控硅控制器

  MKY-CF6K-1B可控硅控制器 主要參數(shù) 觸發(fā)輸出：六路雙脈沖列 脈沖寬度：1.6ms 脈沖峰值：800mA 各項(xiàng)脈沖不均勻度：≤1°

  查看詳情
• 

  MKY-CF6G-3可控硅控制器

  MKY-CF6G-3可控硅控制器 主要參數(shù) 觸發(fā)輸出：六路寬脈沖列觸發(fā)，脈沖變壓 器輸出。 觸發(fā)電壓峰值≥6V 觸發(fā)電流峰值≥800mA 輸入控制信號(hào)：A、B、C三路分別獨(dú)立控

  查看詳情
• 

  MKY-CF6G-1B可控硅控制器

  MKY-CF6G-1B可控硅控制器 主要參數(shù) 觸發(fā)輸出：六路雙脈沖列 脈沖電流峰值：800mA 脈沖電壓峰值：6V

  查看詳情
• 

  MKY-CF2B-2B可控硅控制器

  MKY-CF2B-2B可控硅控制器 主要參數(shù) 觸發(fā)輸出：寬脈沖列 脈沖寬度：180°-α 脈沖峰值：500mA

  查看詳情
• 

  MKY-CSJJ-1可控硅測試夾具

  MKY-CSJJ-1可控硅測試夾具 概述 1.1 適用范圍 本測試夾具適用于大電流可控硅和整流元件的電參數(shù)測試。 1.2 產(chǎn)品特點(diǎn) 結(jié)構(gòu)簡單牢固、使用方便、易于維修。 2 技術(shù)參數(shù) 2.1 極板直徑: 100mm、 2.2 行程：40mm 2..3壓力: 10噸 2.4 外型尺寸: 375×165×600mm 2.5 重量: 30kg

  查看詳情
• 

  MKY-DBC-352晶閘管少子壽命測試儀

  MKY-DBC-352晶閘管少子壽命測試儀 適用范圍及特點(diǎn) 用于測試可控硅或PN結(jié)（二極管）的長基區(qū)少子壽命。 數(shù)字顯示測試結(jié)果，自動(dòng)測試。 主要參數(shù) 少子壽命測量范圍：0.1-99us 外形尺寸：440X440X150mm 整機(jī)重量：10kg

  查看詳情
• 

  MKY-DBC-094晶閘管關(guān)斷時(shí)間測試儀

  MKY-DBC-094晶閘管關(guān)斷時(shí)間測試儀 適用范圍及特點(diǎn) 用于測試可控硅的關(guān)斷時(shí)間。 數(shù)字顯示測試結(jié)果，自動(dòng)完成測試。 主要參數(shù) 關(guān)斷時(shí)間測量范圍： 5-500us 外形尺寸：600X600X1250mm 整機(jī)重量：32kg

  查看詳情
• 

  MKY-DBC-051晶閘管dv/dt測試儀

  MKY-DBC-051晶閘管dv/dt測試儀 適用范圍及特點(diǎn) 用于測試普通可控硅、雙向可控硅、快速可控硅和可控硅模塊的斷態(tài)電壓臨界上升率dV/dt。 數(shù)字顯示斷態(tài)峰值電壓VDM 。 主要參數(shù) 測量范圍： 斷態(tài)峰值電壓VDM 0-2000V； 電壓臨界上升率dV/dt 30-1000V/us 外形尺寸：440X440X150mm 整機(jī)重量：15kg

  查看詳情